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余弦校正器辐照探测

上海闻奕光电CC-UV余弦校正器是一种用于光谱辐射取样的光学元件,用于收集180°立体角内的辐射(光线),从而消除了其它取样装置中由于光线收集取样几何结构限制所导致的光学耦合问题。

       CC-UV余弦校正器的有效面积为4.0mm,采用进口Spectralon漫射材料,可以对紫外/可见/近红外光谱范围(200-2500nm)进行检测,CC-UV可以通过SMA接头的光纤旋拧起来。当耦合在微型光纤光谱仪上时,这些余弦校正器可以用来测量太阳辐射、环境光、灯光和其它发光光源。

应用

余弦矫正器构建的辐照度光谱系统典型适用于LED、光源或其他辐射源的辐照度测量。运用标准光源,对辐照度光谱系统进行辐射定标,可提高辐射测量的准确性。您还可以使用光纤准直镜进行探测,其方式与余弦校正器一样!


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